不銹鋼中不同材料的區(qū)分示例分析

發(fā)布日期：2022-09-19      瀏覽次數(shù)：707

不銹鋼中不同材料的區(qū)分示例分析

該設(shè)備由高壓發(fā)生器、分光頭、計數(shù)電路、使用液晶觸摸屏的CPU系統(tǒng)和樣品室組成。X 射線源是一種節(jié)能風(fēng)冷緊湊型 X 射線管。分光頭由雙曲面環(huán)形LiF和毛細管組成，具有可在CPU控制下更換每個激發(fā)源的結(jié)構(gòu)。光譜頭和樣品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔開，頭內(nèi)部保持數(shù)Pa的真空，樣品置于空氣中。結(jié)果，減少了由空氣引起的散射輻射，并且可以容易地進行測量。X射線探測器采用高分辨率硅漂移探測器（SDD），無需液氮，計數(shù)率高。探測器元件采用兩級珀耳帖元件冷卻，冷卻溫度控制在-20±0.5℃。計數(shù)電路使用緊湊型數(shù)字信號處理器 (DSP)。CPU部分采用液晶觸摸屏，無需安裝空間，操作簡單。為了用環(huán)形單色儀對初級 X 射線 Pd-Kα 射線進行單色化和聚焦，需要以良好的激發(fā)效率和良好的 P/B 比分析過渡金屬、Mo 和 Pb 等。

• X射線管：風(fēng)冷鈀靶

• kV-mA：40-1（Pd-Kα單色光束）

• 測量時間：100秒

• 檢測器：SDD（元件冷卻：-20°C，Mn-Kα射線能量分辨率：160 eV以下）

結(jié)果與討論

在鋼種鑒別的情況下，由于樣品測量表面并不總是平坦的，因此通過取樣品的一次 X 射線與散射 X 射線的比率進行校正。首先分析鑄錠標(biāo)準樣品的平面。Cr-Kα線、Ni-Kα線和Mo-Kα線用于測量光譜。圖1-1為各光譜線的校準曲線與散射X射線的比值校準曲線。兩條校準曲線獲得了幾乎相同的結(jié)果。圖1-2顯示了樣品圓柱面（側(cè)面，直徑約40mmφ）的測量結(jié)果，結(jié)果與平面幾乎相同。接下來，1-3 顯示了使用 Cr-Kα 和 Mo-Kα 射線研究距離特性的結(jié)果。X 射線分析值在距參考物 1、2 和 3 mm 距離處與散射 X 射線的強度比相比，Cr 的最大誤差為 1.41wt%，Mo 的最大誤差為 0.06wt%位置。Cr 和 Mo 的檢測下限分別為 0.0063wt% 和 0.0009wt%。

概括

由以上結(jié)果可知，通過使用OURSTEX100F獲取散射X射線的強度比，能夠以充分的精度獲得鋼種判別。這被認為是由于環(huán)形光譜儀將來自 X 射線管的初級 X 射線會聚到樣品表面上 2-3 mmφ 的效果。預(yù)計該緊湊型裝置將在未來有效地用作簡單鋼型鑒別的異物鑒別裝置。

測量結(jié)果1

 

測量結(jié)果 2

 

測量結(jié)果 2

 

推薦設(shè)備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX100FA"